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发表于 2013-3-20 13:50:05 |只看该作者 |倒序浏览
本帖最后由 麦科三维 于 2013-3-20 14:11 编辑

测头在整个测量机的应用当中发挥着重要作用,因此进行测头的正确选购,通常和进行坐标测量机的选购一样重要。测头分为接触式和非接触式,在目前测量机的应用当中,绝大多数采用接触式测头,接触式测头分为触发测头和扫描测头。

触发侧头与扫描侧头的区别
类型 用途 特点
触发测头 用来探测有棱有型的或已知几何形状的物体 1、测量速度快,侧头体积小易于接近零件;
2、灵活多用——适合多种应用、不同的材料和表面特性;
3、能够检测工件的多项特征;
4、相对来说,购买及维护成本低;
扫描侧头 用于轮廓或外形的检测 1、能告诉的采集数据;
2、能够高密度采点,用采集的点数据来精确描述形状、轮廓;
3、特别适用于对相撞、轮廓有严格要求的零件;
4、测量更为精确、重复性更好;
5价格昂贵
1. 选用触发测头的场合
         所关注的是零件尺寸(如小的螺纹底孔)、间距或位置,而并不是其形状误差(如定位销孔),或你所用的加工设备有能力加工出形状足够好的零件,而注意力主要放在尺寸和位置精度时,接触式触发测量是合适的,特别是对于离散点的测量。
        触发式测头测尺寸、间距或位置比扫描测头快,触发测头体积较小,当测量空间狭窄时测头易于接近零件。
        一般来讲触发式测头使用及维修成本较低;在机械工业中有大量的几何量测量,所关注的仅是零件的尺寸及位置,所以目前市场上的大部分测量机,特别是中等精度测量机,使用接触式触发测头。
2. 选用扫描测头的场合
        应用于有形状要求的零件和轮廓的测量:扫描方式测量的主要优点在于能高速的采集数据,这些数据不仅可以用来确定零件的尺寸及位置,更重要的是能用众多的点来精确的描述形状、轮廓,这特别适用于对形状、轮廓有严格要求的零件,该零件形状直接影响零件的性能(如叶片、椭圆活塞等);也适用于形状误差成为主要问题时的情况。
        高精度测量:由于扫描测头对离散点测量是匀速或恒测力采点,其测点精度可以更高。同时,扫描测头可以直接判断接触点的法矢,对于要求严格定位、定向测量的场合,扫描测头对离散点的测量也具有优势。
        对于未知曲面的扫描,亦即称为数字化的场合下,扫描测头显示出了它的独特优势:因为数字化工作方式时,需要大量的点,触发式测头的采点方式显得太慢;由于是未知曲面,测量机运动的控制方式亦不一样,即在“探索方式”下工作;测量机根据已运动的轨迹来计算下一步运动的轨迹、计算采点密度等。
3. 使用接触式测头和非接触式测头的场合
        非接触测头的特点:非接触测头没有测量力,适于柔软物体;非接触式测头取样率高,在50次/秒到23000次/秒之间,适于表面形状复杂,精度要求不特别高的未知曲面,例如汽车、家电的木模、泥模等。但非接触测头由于受物体表面特性(颜色、光度、粗糙度、形状等)的影响较大,目前在大多数情况下,示值误差比接触式测头要大,保持在20 微米级以上。同时,非接触测头的价格一般较贵。
       选用非接触式测头的原则是:
       在可以应用接触式测头的情况下,慎选非接触式测头;在只测尺寸、位置要素的情况下尽量选接触式触发测头;考虑成本又能满足要求的情况下,尽量选接触式触发测头;易变形零件、精度不高零件、要求超大量数据零件的测量,可以考虑采用非接触式测头;但要考虑附加成本如:软件、硬件(控制器、板卡)的配套。
4. 扫描测头的优势及劣势
优势:
1、适于形状及轮廓测量;
2、高的采点率;
3、高密度采点保证了良好的重复性、再现性;
4、更高级的数据处理能力。
劣势:
1、比触发测头复杂;
2、对离散点的测量较触发测头为慢;
3、高速扫描时由于加速度而引起的动态误差很大,不可忽略,必须加以补偿;
4、针尖的磨损必须注意。
5. 触发测头的优势及劣势
优势:
1、适于空间箱体类工件及巳知表面的测量;
2、通用性强;
3、有多种不同类型的触发测头及附件供采用;
4、采购及运行成本低;
5、应用简单;
6、适用于尺寸测量及在线应用;
7、坚固耐用;
8、体积小,易于在窄小空间应用
9、由于测点时测量机处于匀速直线低速状态,测量机的动态性能对测量精度影响较小。
劣势:测量取点率低。
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